X射线荧光光谱仪
发布时间: 2019-10-16 12:57:49

有两种基本类型:   波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)


 检测元素范围:有效的元素测量范围为 11号元素(Na)到92号元素(U)


样品要求:荧光分析的样品有效厚度一般为≤0.1mm。(金属≤0.1mm;树脂≤3mm)有效厚度并非初级

线束穿透的深度,而是由分析线能够射出的深度决定的!



优点:分析速度高;非破坏分析;分析精密度高;制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。


缺点:难于作绝对分析,故定量分析需要标样;对轻元素的灵敏度要低一些;容易受相互元素干扰和叠

加峰影响。无法测定价态。半定量分析。


XRF测试的点很小通常在10毫米左右,如果样品放置的位置不同,很容易导致测试结果不一样,而这种情

况下,不一定是仪器出现问题,也有可能是样品的材质不均匀。

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